<ruby id="5i274"><bdo id="5i274"></bdo></ruby>

<button id="5i274"><acronym id="5i274"><input id="5i274"></input></acronym></button>

    <dd id="5i274"><pre id="5i274"></pre></dd>

      1. <rp id="5i274"></rp>
        產品中心

        TS150-HP & TS200-HP

        MPI大功率器件表征系統是專門為晶圓上大功率器件測試而設計的。MPI TS150-HP和TS200-HP探針系統提供了完整的150mm和200mm晶圓上解決方案,可在較寬的溫度范圍內實現功率半導體的低接觸電阻測量。
        單機多應用設計
        ? 適用於高功率器件量測和其他多中晶圓級測試應用,如組件特性描述和建模,晶圓級可靠性(WLR)、失效分析 (FA)、集成電路工程、微型機電系統 (MEMS)工效學與安全設計
        ? 方便單手操作的快速釋放拖移氣浮載物臺設計
        ? 堅固且可乘載多達 10 支高電壓 HV 或 4 支大電流HC 微定位器的工作臺
        ? 電磁屏蔽箱和工作臺電弧屏蔽 ArcShieldTM設計,為高電壓量測提供安全防護
        ? 支持較寬我溫度范圍:20℃至300℃

        特點與優勢

        • 空氣軸承

          MPI獨特的氣墊載物臺設計,具有MPI獨特簡單的單手快速移動控制,為快速的XY導航和晶圓裝載提供了無與倫比的操作便利性,同時又具有額外精密的25x25mm的XY-Theta千分尺機芯,提供更精準的定位能力。

           

           

           

           

        • 卡盤系統

          MPI提供高達10KV同軸、600A的卡盤選件,電磁屏蔽和工作臺電弧屏蔽ArcShieldS設計為提高電壓量測提供安全防護。

           

           

           

           

           

           

        • 高電壓/大電流/超大功率探頭

          MPI高功率探測解決方案包括專用的高壓、大電流和超大功率探頭。

          MPI的高壓探頭能高壓測試期間進行低泄漏電流測量,測試高達3kV的三軸或5 kV和10kV的同軸設置。

          HCP使用MPI專有的多觸點尖端來降低接觸電阻,以進行高達600A的超高電流測量。

          UHP探頭兼具這兩種功能,并且無需為高壓和高電流應用更換探頭。

           

           

           

        • 屏蔽系統

           

          標準的手動高功率探頭系統配置有暗箱或紅外激光光幕,可以提供用于安全和EMI屏蔽功能的互鎖,且能夠確保低噪聲、準確和安全的測量。

           

           

           

           

           

        • 儀器集成

          TS150-HP / TS200-HP可以配置各種儀器連接套件,其中包括必要的高壓/大電流探頭和電纜附件,以便最佳連接至測試儀器,例如Keysight B1505(3kV或10kV)或Keithley 2600-PCT-XB,包括集成的8020大功率接口面板。

           

           

           

           

           

                          

        亚洲国产一区二区三区

        <ruby id="5i274"><bdo id="5i274"></bdo></ruby>

        <button id="5i274"><acronym id="5i274"><input id="5i274"></input></acronym></button>

          <dd id="5i274"><pre id="5i274"></pre></dd>

            1. <rp id="5i274"></rp>